110kV避雷器发热故障剖析-重庆问鼎国际
110kV避雷器发热故障剖析-重庆问鼎国际
一、事故简况
6月14日变电磨练中心对110kV x变变电站避雷器举行红外测温，，，，，，经测温发明该110kVx距离避雷器最大相间温差2.1度，，，，，，C相泄泄电流值为0.75mA，，，，，，其余相泄泄电流均为0.4mA，，，，，，综合之前的跟踪测试数据判断C相避雷器保存受潮或内部元件损坏，，，，，，并于6月18日举行了停电替换。。
三、现场检查情形
（一）带电测试跟踪情形
5月17日，，，，，，磨练专业再对避雷器发热及泄泄电流举行排查时发明，，，，，，该距离避雷器三相相间及C相本体上下温度场漫衍纷歧致，，，，，，最大相间温差达1.5度，，，，，，且三相泄泄电流也保存差别，，，，，，依次为：A相0.4mA、B相0.4mA、C相0.6mA，，，，，，故将其列为重点跟踪工具，，，，，，缩短检测周期，，，，，，开展夜间准确红外测温。。
图1 110kV避雷器红外图谱及泄泄电流指示
6月4日晚，，，，，，运行值班员对该距离避雷器举行跟踪测试，，，，，，对图谱举行剖析后显示，，，，，，三相温差增大到2.1度，，，，，，泄泄电流无转变。。
图2 110kV避雷器红外图谱（6月4日）
6月14日夜间，，，，，，磨练专业对该距离避雷器举行准确红外测温跟踪测试，，，，，，发明三相温差险些无转变，，，，，，但C相泄泄电流有所增添抵达0.75mA，，，，，，图示如下：
图3 110kV避雷器红外图谱及泄泄电流指示（6月14日）
（二）试验情形
凭证多个时间节点跟踪复测情形，，，，，，推断110kVC相避雷器内部可能保存元件损坏或劣化受潮情形。。
数据显示C相避雷器绝缘电阻显着下降，，，，，，泄泄电流显着增大，，，，，，Q/GDW1168-2013输变电状态磨练试验规程划定：（1）0.75U1mA泄泄电流初值差应≦30%或≦50uA（注重值）；； ；；；；（2）绝缘电阻不应小于2500MΩ。。凭证以上划定，，，，，，C相避雷器缺乏格。。
（三）解体检查情形
为进一步确定缺陷缘故原由，，，，，，对该避雷器举行解体检查。。
1.外观检查
首先举行避雷器外观检查，，，，，，经检查避雷器外观完整无损，，，，，，外绝缘外貌清洁，，，，，，金属法兰连系面平整，，，，，，无外伤或铸造砂眼，，，，，，随后举行避雷器上部防雨板及内部盖板拆除，，，，，，经检查未发明进水迹象，，，，，，如图4所示。。
图4 避雷器外观检查及解体历程检查
2.电阻片检查
抽出避雷器电阻片支架，，，，，，经视察支架内电阻片共计30片，，，，，，由支持金属管脱离六层，，，，，，每层5片，，，，，，其中第二层第一片2-1电阻片边沿破损脱落，，，，，，最后一层6-1、6-2、6-5电阻片均有多处显着炸裂破损，，，，，，如图5所示。。
图5 避雷器电阻片检查
3.器身绝缘筒检查
检查避雷器下部绝缘筒，，，，，，发明最底层破损电阻片对应位置内筒壁上有电阻片迸出痕迹，，，，，，并有大宗绿色粉末附着；； ；；；；内部发明一颗小螺丝，，，，，，螺丝外观整齐无装配痕迹，，，，，，避雷器器身也没有该型号螺丝，，，，，，如图6所示。。检查避雷器上部绝缘筒，，，，，，发明顶部内壁上有发热痕迹，，，，，，且外貌有显着粉状物附着，，，，，，如图7所示。。
图6 避雷器下筒壁内部检查
图7 避雷器上筒壁内部检查
四、缘故原由剖析
试验数据缺乏格缘故原由剖析
避雷器内部由电阻片和增高垫块组成，，，，，，所有相电压由电阻片肩负，，，，，，并由上到下逐渐分压直至尾端接地，，，，，，该避雷器电阻片共30片，，，，，，底部3片电阻片破碎并有向外倾圯痕迹，，，，，，上部1个电阻片边沿有破损。。
图8 避雷器泄泄电流通道示意图
避雷器下部电阻片向外倾圯后碰撞内筒壁并形成大宗绿色粉末，，，，，，由于筒壁内为密封结构，，，，，，在高电压下大宗粉末附着在内侧筒壁，，，，，，顶部看也能显着看到内壁附着物。。内壁的附着物导致绝缘电阻试验时泄泄电流的旁路分流，，，，，，导致泄泄电流增大，，，，，，绝缘电阻降低，，，，，，如图8所示。。
五、袒露问题
抽检、监造事情不到位导致避雷器生产制造阶段失去监视，，，，，，凭证《避雷器全历程手艺监视治理实验细则》-4装备制造-7电阻片中划定“3在对电阻片抽检时，，，，，，应见证以下试验：（1）4μs/10μs大电流攻击耐受试验：耐受两次攻击，，，，，，距离时间为50～60s，，，，，，不应有击穿、闪络、破碎或显着损坏的痕迹；； ；；；；（2）2ms方波攻击耐受试验：耐受3次×6组2ms方波攻击电流，，，，，，试验前后试品额定电流残压转变率不凌驾5%，，，，，，不应有击穿、闪络、破碎或显着损坏的痕迹；； ；；；；（3）1000h加速老化试验：若因条件所限，，，，，，可提供半年内举行的1000h加速老化试验报告，，，，，，并凭证供应商工艺文件要求举行加速老化试验验证。。”关于以上3项试验见证事情装备制造阶段未开展，，，，，，导致缺乏格的电阻片装配入网，，，，，，进而造成装备质量问题。。
